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LCR测试仪
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产品简单介绍
HIOKI 3532-50 LCR测试仪
HIOKI 3532-50
HIOKI 3532-50 LCR测试仪--搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来。
C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506
HIOKI 3506
C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506的性能:反复测量精度更高,最适合生产线校正维修功能,减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能
C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505
HIOKI 3505
C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505的性能:反复测量精度更高,最适合生产线校正维修功能,减低由环境的温度变化影响测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能比测仪的设定值和测定值的同步显示2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量根据BIN的测定区分容量比测仪和触发器同步输出功能
电容测试仪 HIOKI 3504
HIOKI 3504
最多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断高速测量:测量频率1kHz 时2ms, 120Hz 时10ms。可选定测量电压触发同步测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C测试仪3504/电容测试仪 HIOKI 3504不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头
电容测试仪 HIOKI 3504-10
HIOKI 3504-10
最多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断高速测量:测量频率1kHz 时2ms, 120Hz 时10ms。可选定测量电压触发同步测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C测试仪3504/电容测试仪 HIOKI 3504不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头
HIOKI 3501电容值测试仪/电容表
HIOKI 3501
单按键操作16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围与一般测量功能不同,它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容
HIOKI 3535 LCR测试仪
HIOKI 3535
hioki 3535 LCR测试仪的性能:100kHz~120MHz的宽频带高速LCR仪,采样率可高至120MHz 高速LCR测试(6ms/采样)拆卸式前置放大器可选择为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
HIOKI 3511-50 LCR测试仪
HIOKI 3511-50
日本日置HIOKI 3511-50 LCR测试仪的性能:高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)精巧,非常专业,5ms快速测量LCR高精度: ±0.08% 内置比较器
HIOKI 3522-50 LCR测试仪
HIOKI 3522-50
LCR 3522-50LCR测试仪使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗,以使用方便、功能完备和最佳性价比而见长 LCR 3522-50LCR测试仪具有低价及更好的功用和性能
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